X射线衍射 X-ray Diffraction
x射线衍射(XRD)是一种基于布拉格衍射来测定晶体原子和分子结构的技术。
x射线通常被用来产生衍射图样，因为它们的波长通常与晶体中平面间距d的数量级相同(1100埃)。
衍射x射线的强度和角度可以产生晶体内电子密度的三维图像，从而得到原子的平均位置以及化学键、紊乱和其他信息。
如果是单晶样品，通常安装在测角仪上，测角仪可以将样品定位在选定的方向上。
低温XRD的优点是降低了辐射损伤和热运动。
低温XRD也有助于表征超导体材料。
参考文献：
1、Diego Casa, Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, USA: Sci Rep 9, 4263 (2019).
2、Michael Probert, Department of Chemistry, Durham University, England: J. Appl. Cryst. 43, 1415–1418 (2010).
3、Robert P.C. Bauer, Aravind Ravichandran, John S. Tse,* Narayan Appathurai, Graham King,Beatriz Moreno, Serge Desgreniers, and Ramaswami Sammynaiken：Tse_JPCC_2021
相关产品：
DE-202低温恒温器因其质量轻便且线性设计，使其非常适合在X射线衍射仪上面进行操作，因此是最常用的X射线衍射低温恒温器。
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• 提供与Huber测角仪和Bruker衍射仪集成时所需的紧密旋转部件
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