角分辨光电子能谱 Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy (ARPES)
角分辨光电子能谱(ARPES)是一种用于获取晶体在倒易空间中的电子带结构和费米表面信息的光发射光谱法。用软X射线辐照晶体表面,测量了表面发射的光电子动能随极角和方位角的变化。因为从表面逸出的电子通过表面投射,垂直于表面的动量方向不守恒。因此,ARPES是二维材料的理想工具,因为感兴趣的电子动量方向与表面平行。通过降低低温下的热能,可以提高激发的灵敏度。
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