原子力显微镜 Atomic Force Microscopy (AFM)
原子力显微镜（AFM）是扫描探针显微镜（SPM）的一种方法，它是一种测量局部性质（如高度、摩擦力和磁性）的综合技术。AFM由悬臂末端的尖端作为探针组成，探针通常为3-6µm高的棱锥体，端部半径为15-40nm，用于测量探针与样品表面之间的作用力。
原子力显微镜利用光学杠杆测量悬臂梁的挠度，从而产生图像轮廓。原子力显微镜的垂直分辨率可达0.1nm。原子力显微镜（AFM）是为了克服扫描隧道显微镜（STM）只能用于导电或半导体表面的缺点而发展起来的。原子力显微镜的优点是它可以应用于任何表面，如聚合物和复合材料。在低温下运行原子力显微镜可以减少热漂移和热噪声，从而实现高分辨率测量。
参考文献：
Markus Raschke, Department of Physics, University of Colorado, USA.
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