扫描隧道显微镜(STM) Scanning Tunnel Microscopy
扫描隧道显微镜(STM)是在扫描探针显微镜(SPM)领域发展起来的最早的技术。它生成的成像表面具有原子分辨率，横向分辨率为~ 0.1 nm，深度为~ 0.01 nm。STM的原理是基于量子隧穿。在进行测量时，由于探针非常接近表面，所以有一个导电的尖头。同时，在探针和样品之间施加电压偏置，使电子通过空间隧道。所得到的图像是叶尖在样本表面上扫描时叶尖高度的变化。结果图像是在样品表面上扫描尖端时尖端高度的变化。
高分辨率STM成像要求样品表面和针尖干净，电子和物理噪声低。STM可广泛应用于超高压或其它气体或液体环境，温度从~0K到1300K。
参考文献：
1、George Nazin, Department of Chemistry, University of Oregon, USA: Review of Scientific Instruments 85, 103704 (2014)
2、Wilson Ho, Department of Physics & Astronomy, University of California Irvine, USA: Review of Scientific Instruments 70, 137 (1999)
OEM: RHK Technologies, Commercial Cryo-SPM’s
3、High-Stability_STM_based_on_closed-cycle-cryostat_RevSciInst_Nazin_2014
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